太陽電池組件測(cè)試儀是專門針對(duì)實(shí)驗(yàn)室用戶而研發(fā)，為側(cè)向直 射式光源結(jié)構(gòu)，模擬真實(shí)太陽光照射條件，滿足 300-1200nm 全光譜，脈沖寬度 10ms 至 100ms 可調(diào)，同時(shí)具有等效脈寬技術(shù)，100ms 脈寬可等效 500ms 測(cè)試效果。
設(shè)備滿足行業(yè)頂級(jí)標(biāo)準(zhǔn)要求：1.A+A+A+性能；不均勻度、光譜匹配度、光強(qiáng)穩(wěn)定 度三大核心性能指標(biāo)均超過行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。2。全光譜；光譜范圍滿足 300-1200nm 范圍，實(shí)現(xiàn)高效晶硅電池的全光譜測(cè)試，測(cè)試準(zhǔn)確性大幅提高。3.五種智能掃描 方法：常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、非線 性掃描方法，操作靈活，適用于實(shí)驗(yàn)室客戶定制化測(cè)試方案需求。4.支持 EL 測(cè) 試功能，一臺(tái)機(jī)器同時(shí)具有兩種完全不同類型的測(cè)試功能，能夠同時(shí)滿足測(cè)量太 陽電池組件的電性能與 EL 缺陷檢測(cè)的要求，一次接線，兩種測(cè)試。
測(cè)試對(duì)象：適用于晶體硅太陽能電池組件（PERC、N 型、TOPcon 以及 HJT 等）、支持 MBB、半片、疊片等組件、支持薄膜電池組件的電性能參數(shù)的測(cè)試、 缺陷檢測(cè)和結(jié)果記錄及導(dǎo)出。
性能特點(diǎn)
A+A+A+標(biāo)準(zhǔn)：高于 IEC60904-9 2020 標(biāo)準(zhǔn)
300-1200nm 全光譜：更加真實(shí)反映組件在各波段響應(yīng)能力
適合各類電池研究、輔材研究實(shí)驗(yàn)室
電子負(fù)載：掃描方向支持 Isc→Voc 和 Voc→Isc 兩種模式
智能掃描方法：常規(guī)線性掃描方法、局部掃描方法、遲滯掃描方法、分段掃描方法、 非線性掃描方法
測(cè)量對(duì)象：PERC、N 型、HJT、IBC、TOPcon、CIGS、普通晶硅等技術(shù)組件
支持 EL 測(cè)試功能：一次接線，兩種測(cè)試
萊科斯（LAILX）致力于光伏檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)，現(xiàn)有設(shè)備包括 EL檢測(cè)系列，便攜式EL缺陷檢測(cè)儀，組串式EL檢測(cè)儀，太陽能便攜式EL測(cè)試儀，IV功率測(cè)試系列，便攜式IV測(cè)試儀，電能質(zhì)量分析儀，等相關(guān)光伏電站檢測(cè)設(shè)備與光伏產(chǎn)線實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)設(shè)備。
